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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 城戸 光一佐藤 謙黒田 理人安藤 大輔須藤 祐司小池 淳一
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Effect of an oxide layer at Co/Si interface on Schottky barrier height and contact resistivity
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 119(239):2019.10.23・24
- 掲載巻
- 119
- 掲載号
- 239