軟X線領域のXAFS...

軟X線領域のXAFS測定による模擬廃棄物ガラスの構造評価(共同研究)

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軟X線領域のXAFS測定による模擬廃棄物ガラスの構造評価(共同研究)

国立国会図書館請求記号
Z74-E738
国立国会図書館書誌ID
030681847
資料種別
記事
著者
永井 崇之ほか
出版者
東海村 (茨城県) : 日本原子力研究開発機構
出版年
2020-09
資料形態
掲載誌名
JAEA-research 2020(9):2020.9
掲載ページ
p.1-5,1-48
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
永井 崇之
岡本 芳浩
山岸 弘奈
太田 俊明
小島 一男
猪瀬 毅彦
佐藤 誠一
畠山 清司
並列タイトル等
Structural Investigation of Simulated Waste Class Samples by using XAFS Measurement in Soft X-ray Region (Joint Research)
タイトル(掲載誌)
JAEA-research
巻号年月日等(掲載誌)
2020(9):2020.9
掲載巻
2020
掲載号
9
掲載ページ
1-5,1-48