同位体ナノスコープによる地球外物質の希ガス深さ方向分析に向けた微小粒子分析法の開発
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 大槻 悠太馬上 謙一圦本 尚義
- 並列タイトル等
- Development of in-situ Depth Profiling for Extraterrestrial Materials with Isotope Nanoscope
- タイトル（掲載誌）
- Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan = 質量分析
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 69(6)=330:2021.12
- 掲載巻
- 69
- 掲載号
- 6
- 掲載通号
- 330