透過電子顕微鏡法(T...

透過電子顕微鏡法(TEM)の基本原理とその場観察法によるナノ粒子の特異物性解析

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透過電子顕微鏡法(TEM)の基本原理とその場観察法によるナノ粒子の特異物性解析

国立国会図書館請求記号
Z74-D264
国立国会図書館書誌ID
10506345
資料種別
記事
著者
保田 英洋ほか
出版者
豊中 : ナノ学会
出版年
2009-11
資料形態
掲載誌名
ナノ学会会報 = The bulletin of the Society of Nano Science and Technology 8(1) 2009.11
掲載ページ
p.1~8
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
保田 英洋
今村 真幸
新田 紀子 他
並列タイトル等
Fundamentals of transmission electron microscopy (TEM) and analyses of specific properties in nanoparticles by in-situ observations
タイトル(掲載誌)
ナノ学会会報 = The bulletin of the Society of Nano Science and Technology
巻号年月日等(掲載誌)
8(1) 2009.11
掲載巻
8
掲載号
1
掲載ページ
1~8