書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 田島 正文橋詰 保
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Current collapse characterization of AlGaN/GaN HEMTs using by dual-gate structure
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 110(358) 2011.1.13・14
- 掲載巻
- 110
- 掲載号
- 358