巻号8
表面近傍の残留応力勾...

表面近傍の残留応力勾配解析におけるX線侵入深さ

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表面近傍の残留応力勾配解析におけるX線侵入深さ

国立国会図書館請求記号
Z17-1309
国立国会図書館書誌ID
4119210
資料種別
記事
著者
鈴木 賢治ほか
出版者
名古屋 : ファインセラミックスセンター
出版年
1996-11
資料形態
デジタル
掲載誌名
JFCC review (通号 8) 1996.11
掲載ページ
p.144~151
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資料詳細

要約等:

The distribution of residual stress near the surface of ground ceramics is very steep. In the X-ray stress measurements of specimens with large stress...

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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
鈴木 賢治
田中 啓介
坂井田 喜久
タイトル(掲載誌)
JFCC review
巻号年月日等(掲載誌)
(通号 8) 1996.11
掲載通号
8
掲載ページ
144~151
掲載年月日(W3CDTF)
1996-11
ISSN(掲載誌)
0916-4553