Artifact and Fact of Si(111)7×7 Surface Images Observed with a Low Temperature Noncontact Atomic Force Microscope(LT-NC-AFM)
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- Nobuhito SuehiraYasuhiro SugawaraSeizo Morita
- タイトル（掲載誌）
- Japanese journal of applied physics. Pt. 2, Letters
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 40(3B) (通号 341) 2001.3
- 掲載巻
- 40
- 掲載号
- 3B
- 掲載通号
- 341
- 掲載ページ
- L292～294