単結晶CuInSe2薄膜の電子線照射欠陥の評価 (結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子材料,太陽電池,高耐圧素子等) 小特集:3族窒化物研究の最前線)

単結晶CuInSe2薄膜の電子線照射欠陥の評価

(結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子材料,太陽電池,高耐圧素子等) 小特集:3族窒化物研究の最前線)

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 102(81) 2002.5.24

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Material Type: 記事
Title: 単結晶CuInSe2薄膜の電子線照射欠陥の評価
Author/Editor: 藤田尚樹
李海錫
岡田浩他
Series Title: 結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子材料,太陽電池,高耐圧素子等) 小特集:3族窒化物研究の最前線
Author Heading: 藤田尚樹
李海錫
岡田浩
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 102(81) 2002.5.24
Volume: 102
Issue: 81
Pages: 79～84
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2002-05-24
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: DLTS
活性化エネルギー
捕獲断面積
electron irradiation
activation energy
capture cross section
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): SDM2002-41
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 6188394
http://id.ndl.go.jp/bib/6188394
Bibliographic Record Category (NDL): 632