Local characterization of electronic transport in microcrystalline germanium thin films by atomic force microscopy using a conducting probe

書誌情報

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資料種別: 記事
タイトル: Local characterization of electronic transport in microcrystalline germanium thin films by atomic force microscopy using a conducting probe
著者・編者: 牧原克典
岡本祥裕
中川博他
著者標目: 牧原克典
岡本祥裕
中川博
並列タイトル等: 導電性AFM探針による微結晶ゲルマニウム薄膜の局所電気伝導評価
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 103(162) 2003.6.30
掲載巻: 103
掲載号: 162
掲載ページ: 37～40
掲載年月日（W3CDTF）: 2003-06-30
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: eng
件名標目: Ge薄膜
Ge film
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: SDM2003-82
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 6646778
http://id.ndl.go.jp/bib/6646778
整理区分コード: 632