高エネルギー放射光を用いたひずみスキャニング法による残留応力分布測定
デジタルデータあり（科学技術振興機構）
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 町屋 修太郎秋庭 義明鈴木 賢治 他
- タイトル（掲載誌）
- 日本機械学会論文集. A編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 71(711) 2005.11
- 掲載巻
- 71
- 掲載号
- 711
- 掲載ページ
- 1530～1537
- 掲載年月日（W3CDTF）
- 2005-11