高耐圧SiC-JFETの交流特性測定--高電圧バイアスおよびゲート電圧印加を可能とする測定回路

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高耐圧SiC-JFETの交流特性測定--高電圧バイアスおよびゲート電圧印加を可能とする測定回路

Call No. (NDL)
Z16-940
Bibliographic ID of National Diet Library
8539792
Material type
記事
Author
松崎 俊太郎ほか
Publisher
東京 : 電子情報通信学会
Publication date
2006-10-04
Material Format
Paper
Journal name
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106(272) 2006.10.4
Publication Page
p.19~24
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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
松崎 俊太郎
舟木 剛
引原 隆士
Periodical title
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue
106(272) 2006.10.4
Volume
106
Issue
272
Pages
19~24
Publication date of volume/issue (W3CDTF)
2006-10-04