平面応力を負荷した半導体シリコン単結晶中の点欠陥の安定性に関する第一原理解析
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 王 艶波末岡 浩治芝 世弐 他
- 並列タイトル等
- Ab initio analysis on stability of point defects in plane-stressed Si single crystal
- タイトル（掲載誌）
- 日本機械学会論文集. A編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 73(732) 2007.8
- 掲載巻
- 73
- 掲載号
- 732
- 掲載ページ
- 965～971