無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法 (ディペンダブルコンピューティング)

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無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法

(ディペンダブルコンピューティング)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
9291344
資料種別
記事
著者
森永 広介ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2007-11-20
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107(337) 2007.11.20
掲載ページ
p.13~18
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
森永 広介
岡 伸也
吉川 祐樹 他
並列タイトル等
An optimization of thru trees for test generation based on acyclical testability
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
107(337) 2007.11.20
掲載巻
107
掲載号
337