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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 福澤 友晶宮瀬 紘平大和 勇太 他
- 並列タイトル等
- A transition delay test generation method for capture power reduction during at-speed scan testing
- タイトル（掲載誌）
- 情報処理学会研究報告 = IPSJ SIG technical reports
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 2007(114) 2007.11.20-22
- 掲載巻
- 2007
- 掲載号
- 114