論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価

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論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価

国立国会図書館請求記号
Z16-1617
国立国会図書館書誌ID
9298210
資料種別
記事
著者
小野 安季良ほか
出版者
東京 : エレクトロニクス実装学会
出版年
2007-09
資料形態
掲載誌名
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集 17 2007.9.13・14
掲載ページ
p.195~198
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
小野 安季良
一宮 正博
四柳 浩之 他
並列タイトル等
Testability of supply current test method for resistive open lead detection
タイトル(掲載誌)
マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
巻号年月日等(掲載誌)
17 2007.9.13・14
掲載巻
17
掲載ページ
195~198
掲載年月日(W3CDTF)
2007-09