書誌情報
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 池田 賢一廣田 健藤本 健資 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Microstructural analysis of polycrystalline silicon thin films formation behavior during aluminum induced crystallization
- タイトル(掲載誌)
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 108(2) 2008.4.11・12
- 掲載巻
- 108
- 掲載号
- 2