書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 松下 由憲加藤 正史市村 正也 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Characterization of epitaxial p-type 4H-SiC layers by the microwave photoconductivity decay method
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 108(34) 2008.5.15・16
- 掲載巻
- 108
- 掲載号
- 34