書誌情報
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 松下 由憲加藤 正史市村 正也 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Characterization of epitaxial p-type 4H-SiC layers by the microwave photoconductivity decay method
- タイトル(掲載誌)
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 108(36) 2008.5.15・16
- 掲載巻
- 108
- 掲載号
- 36