画像解析を用いたホワイトシリコーンの平均被膜厚さ測定法に関する実験的研究
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国立国会図書館デジタルコレクション
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- タイトルよみ
- ガゾウ カイセキ オ モチイタ ホワイト シリコーン ノ ヘイキン ヒマク アツサ ソクテイホウ ニ カンスル ジッケンテキ ケンキュウ
- 著者・編者
- 鶴岡美帆 [著]
- 著者標目
- 鶴岡, 美帆 ツルオカ, ミホ
- 授与機関名
- 鶴見大学
- 授与年月日
- 平成1年3月15日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1989
- 報告番号
- 甲第65号
- 学位
- 歯学博士