Characterization of Ⅲ-V compound semiconductor interfaces by X-ray photoelectron spectroscopy
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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
CONTENTS
p3
Acknowledgements
p1
Contents
p3
CHAPTER1 Introduction1
p1
1.1 Historical Background
p1
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- 著者・編者
- 石井宏辰 [著]
- 著者標目
- 石井, 宏辰 イシイ, ヒロタツ
- 並列タイトル等
- 光電子分光法によるⅢ-V族化合物半導体界面の評価 コウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル 3 - 5ゾク カゴウブツ ハンドウタイ カイメン ノ ヒョウカ
- 授与機関名
- 北海道大学
- 授与年月日
- 平成4年3月25日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1992
- 報告番号
- 甲第3041号
- 学位
- 工学博士