分析電子顕微鏡による接合界面の構造および拡散の研究
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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
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p1
第1章 序論
p1
1.1 研究の背景
p1
1.2 本研究の概要
p9
第2章 AEMによる薄膜試料のX線定量分析法とその問題点
p11
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- タイトルよみ
- ブンセキ デンシ ケンビキョウ ニ ヨル セツゴウ カイメン ノ コウゾウ オヨビ カクサン ノ ケンキュウ
- 著者・編者
- 渡辺万三志 [著]
- 著者標目
- 渡辺, 万三志 ワタナベ, マサシ
- 授与機関名
- 九州大学
- 授与年月日
- 平成8年3月27日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1996
- 報告番号
- 甲第3754号
- 学位
- 博士 (工学)