Study of molecular beam epitaxy processes of compound semiconductors by reflectance difference spectroscopy and reflection high energy electron diffraction
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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
Table of contents
p4
Abstract of Dissertation
p2
Chapter 1 Introduction
p1
1.1 Reflectance Difference Spectroscopy
p1
1.2 RDS as an in-situ analysis tool
p3
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- 著者・編者
- 鄭炫墩 [著]
- 著者標目
- 鄭, 炫墩 チョン, ヒョンドン
- 並列タイトル等
- 反射差分光法と高速電子線折法による化合物半導体の分子線エピタキシ過程の研究 ハンシャサ ブンコウホウ ト コウソク デンシセン セツホウ ニ ヨル カゴウブツ ハンドウタイ ノ ブンシセン エピタキシ カテイ ノ ケンキュウ
- 授与機関名
- 東北大学
- 授与年月日
- 平成11年3月25日
- 授与年月日（W3CDTF）
- 1999
- 報告番号
- 甲第6930号
- 学位
- 博士(工学)