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Study on characterization and control of surface adsorbates and oxides on SiC using FTIR-ATR

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Study on characterization and control of surface adsorbates and oxides on SiC using FTIR-ATR

国立国会図書館請求記号
UT51-99-P196
国立国会図書館書誌ID
000000338956
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/3153766
資料種別
博士論文
著者
土田秀一 [著]
出版者
-
出版年
-
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
長岡技術科学大学,博士(工学)
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目次

  • Index

    p1

  • 1.Introduction

    p1

  • 1.1 Status of power electronics for power systems

    p1

  • 1.2 Possibility of SiC semiconductor devices

    p3

  • 1.3 Recent developments on SiC

    p6

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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
土田秀一 [著]
著者標目
土田, 秀一 ツチダ, ヒデカズ
並列タイトル等
FTIR-ATRによるSiC上の表面吸着質ならびに酸化物の評価・制御に関する研究 FTIR-ATR ニ ヨル SiCジョウ ノ ヒョウメン キュウチャクシツ ナラビニ サンカブツ ノ ヒョウカ セイギョ ニ カンスル ケンキュウ
授与機関名
長岡技術科学大学
授与年月日
平成11年3月25日
授与年月日(W3CDTF)
1999
報告番号
乙第134号
学位
博士(工学)