VLSIの組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路に関する研究
インターネットで読む
すぐに読む
国立国会図書館デジタルコレクション
書店で探す
障害者向け資料で読む
目次
提供元：国立国会図書館デジタルコレクションヘルプページへのリンク
(論文要旨)
p1
目次
第1章 序論
p1
1.1 VLSIのテスト技術
p2
1.2 BIST技術の必要性とこれまでの研究
p6
書店で探す
障害者向け資料で読む
- みなサーチ
- プレーンテキスト
みなサーチに登録・ログインで利用できます
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 博士論文
- タイトルよみ
- VLSI ノ クミコミ ジコ テスト ニ オケル テスト パターン ハッセイ カイロ ニ カンスル ケンキュウ
- 著者・編者
- 浅川毅 [著]
- 著者標目
- 浅川, 毅 アサカワ, タケシ
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2001
- 出版年（W3CDTF）
- 2001
- 数量
- 1冊
- 授与機関名
- 東京都立大学