Proceedings / ATE Central, Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference ; s ponsored by Electronics test, October 4-6, 1983, O'Hare Exposition and Conference Center, Rosemont, IL.

Proceedings / ATE Central, Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference ; s ponsored by Electronics test, October 4-6, 1983, O'Hare Exposition and Conference Center, Rosemont, IL.

国立国会図書館請求記号: M15-A5885
国立国会図書館書誌ID: 000003112674

資料種別: 図書

著者: Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference (1983 : Rosemont, Ill.)

出版者: Morgan-Grampian Pub. Co.

出版年: c1983.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.

NDC: -

すべて見る

書店で探す

書店で探す

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

紙

資料種別: 図書
タイトル: Proceedings / ATE Central, Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference ; s ponsored by Electronics test, October 4-6, 1983, O'Hare Exposition and Conference Center, Rosemont, IL.
タイトル標目: Electronics test.
著者標目: Automated Testing for Electronics Manufacturing Conference (1983 : Rosemont, Ill.)
出版事項: [New York] : Morgan-Grampian Pub. Co.
出版年月日等: c1983.
出版年（W3CDTF）: 1983
数量: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses.
Automatic checkout equipment -- Congresses.
LCC: TK7836
DDC: 621.381/028/7
NDLC: M15
ND
書誌注記: Includes bibliographies.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M15-A5885
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000003112674
http://id.ndl.go.jp/bib/000003112674
LC control number: 83244307
https://lccn.loc.gov/83244307
整理区分コード: 211

もっと見る