Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : 3-5 August 2003 : San Diego, California, USA. : annual SPIE conference on advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : Aug 2003, San Diego, CA. (SPIE Proceedings ; 5188)

Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : 3-5 August 2003 : San Diego, California, USA. : annual SPIE conference on advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : Aug 2003, San Diego, CA.

(SPIE Proceedings ; 5188)

国立国会図書館請求記号: M17-04-1398
国立国会図書館書誌ID: 000004314806

資料種別: 図書

著者: Duparré, Angela.ほか

出版者: SPIE

出版年: c2003.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: x, 402 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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一般注記：: Selected papers.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0819450618
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : 3-5 August 2003 : San Diego, California, USA. : annual SPIE conference on advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies : Aug 2003, San Diego, CA.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 5188
タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering. v. 5188.
著者標目: Duparré, Angela.
Singh, Bhanwar.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2003.
出版年（W3CDTF）: 2003
数量: x, 402 p. : ill. ; 28 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Optoelectronics. -- Congresses.
Optoelectronic devices -- Congresses.
Optical measurements -- Congresses.
Semiconductors -- Characterization -- Congresses.
Thin films -- Optical properties -- Congresses.
Nanotechnology -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Selected papers.
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-1398
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004314806
http://id.ndl.go.jp/bib/000004314806
RLIN番号: MOHG53898281-B
整理区分コード: 215