Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 microform / J.C. Marshall and R.L. Mattis (Semiconductor measurement technology) (NIST special publication ; 400-90)

Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 microform / J.C. Marshall and R.L. Mattis

(Semiconductor measurement technology) (NIST special publication ; 400-90)

国立国会図書館請求記号: YCA-C 13.10:400-90
国立国会図書館書誌ID: 000006584308

資料種別: 図書

著者: Marshall, J. C. (Janet C.)ほか

出版者: -

出版年: 1992

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: microfiche ; 11 × 15 cm

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Distributed to depository libraries in microfichePaper version no longer for sale by the Supt. of DocsShipping list no.: 92-2218-M...

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 図書
タイトル: Evaluating a chip, wafer, or lot using SUXES, SPICE, and STAT2 microform / J.C. Marshall and R.L. Mattis
シリーズタイトル: Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-90
著者標目: Marshall, J. C. (Janet C.)
Mattis, Richard L
National Institute of Standards and Technology (U.S.)
出版年（W3CDTF）: 1992
数量: microfiche
大きさ: 11 × 15 cm
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
資料種別（注記）: [microform]
件名標目: Integrated circuits -- Evaluation
一般注記: Distributed to depository libraries in microfiche
Paper version no longer for sale by the Supt. of Docs
Shipping list no.: 92-2218-M
"April 1992."
Physical description for original version: iv, 140 p. : 28 cm
書誌注記: Includes bibliographical references (p. 41-42)
原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, [1992]
ISBN: 0160367883 (paper copy)
SUPTDOC番号: C 13.10: 400-90
GPO管理番号: 0247 (MF)
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YCA-C 13.10:400-90
原資料（ISBN）: paper copy : 0160367883
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006584308
http://id.ndl.go.jp/bib/000006584308
OCLC番号: 27018099
https://www.worldcat.org/oclc/27018099
整理区分コード: 281