博士論文

Characterization of semiconductor devices and thin dielectric films by scanning capacitance microscopy with self-sensing conductive probe

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Characterization of semiconductor devices and thin dielectric films by scanning capacitance microscopy with self-sensing conductive probe

国立国会図書館請求記号
UT51-2008-D437
国立国会図書館書誌ID
000009403055
資料種別
博士論文
著者
Yuichi Naitou [著]
出版者
[Yuichi Naitou]
出版年
[2008]
資料形態
ページ数・大きさ等
1冊
授与大学名・学位
大阪大学,博士 (工学)
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書誌情報

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資料種別
博士論文
著者・編者
Yuichi Naitou [著]
著者標目
内藤, 裕一 ナイトウ, ユウイチ
出版事項
出版年月日等
[2008]
出版年(W3CDTF)
2008
数量
1冊
並列タイトル等
自己検出型導電性プローブを用いた走査型容量顕微鏡による半導体デバイスおよび薄膜誘電体材料の局所電気特性評価に関する研究 ジコ ケンシュツガタ ドウデンセイ プローブ オ モチイタ ソウサガタ ヨウリョウ ケンビキョウ ニ ヨル ハンドウタイ デバイス オヨビ ハクマク ユウデンタイ ザイリョウ ノ キョクショ デンキ トクセイ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
授与機関名
大阪大学