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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 野平 博司小松 新那須 賢太郎 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Study of HfO₂/Si/strained-Ge/SiGe using Angle Resolved x-ray Photoelectron Spectroscopy
- タイトル（掲載誌）
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 111(249):2011.10.20・21
- 掲載巻
- 111
- 掲載号
- 249