2012 19th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2012) : Singapore : 2-6 July 2012 : Jul 2012, Singapore.

著者: International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (19th : 2012 : Singapore)

資料に関する注記

書店で探す

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
ISBN: 9781467309806 (print)
ISSN: 19461542
タイトル: 2012 19th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2012) : Singapore : 2-6 July 2012 : Jul 2012, Singapore.
著者標目: International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (19th : 2012 : Singapore)
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2012.
出版年（W3CDTF）: 2012
数量: 408 p.
形態の詳細: ill.
大きさ: 27 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits--Reliability--Congresses.
Integrated circuits--Testing--Congresses.
Semiconductors--Failures--Congresses.
Integrated circuits--Defects--Congresses.
NDLC: M17
対象利用者: 一般
一般注記: Papers.
IEEE cat no CFP12777-PRT.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
一次資料へのリンクURL: IEEE Xplore
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6296434
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-13-1384
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024151070
http://id.ndl.go.jp/bib/024151070
OCLC番号: 817932431
https://www.worldcat.org/oclc/817932431
目録規則: 英米目録規則
整理区分コード: 215