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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 三木 浩史手賀 直樹山岡 雅直 他
- 並列タイトル等
- Statistical Analysis of Random Telegraph Noise (RTN) and its Impact on Variation in Threshold Voltage of Highly Scaled MOSFET
- タイトル(掲載誌)
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 112(421):2013.1.30
- 掲載巻
- 112
- 掲載号
- 421