博士論文

Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps

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Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps

国立国会図書館請求記号
UT51-2012-R385
国立国会図書館書誌ID
024457746
資料種別
博士論文
著者
Ming Hu [著]
出版者
[Ming Hu]
出版年
[2012]
資料形態
ページ数・大きさ等
1冊
授与大学名・学位
島根大学,博士(工学)
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博士論文

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書誌情報

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資料種別
博士論文
著者・編者
Ming Hu [著]
著者標目
胡, 明 フー, ミン
出版事項
出版年月日等
[2012]
出版年(W3CDTF)
2012
数量
1冊
並列タイトル等
ナノスケールMOSFETにおけるホットキャリア効果 : 界面トラップの発生振舞い ナノスケール MOSFET ニ オケル ホット キャリア コウカ : カイメン トラップ ノ ハッセイ フルマイ
授与機関名
島根大学