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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 槇山 秀樹山本 芳樹篠原 博文 他
- 並列タイトル等
- Suppression of Die-to-Die Delay Variability of Silicon on Thin Buried Oxide (SOTB) CMOS Circuits by Balanced P/N Drivability Control with Back-Bias for Ultralow-Voltage (0.4V) Operation
- タイトル(掲載誌)
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 113(420):2014.1.29
- 掲載巻
- 113
- 掲載号
- 420