コンタクトの信頼性 : Siデバイスから先端パワーデバイスまで (パワー半導体の現状と信頼性)
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 横川 慎二
- シリーズタイトル
- 著者標目
- 並列タイトル等
- Reliability of Contacts : From Silicon Device to Advanced Power Device
- タイトル（掲載誌）
- 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 37(1)=221:2015.1
- 掲載巻
- 37
- 掲載号
- 1