組込みソフトウェア開発における設計関連メトリクスに基づく下流試験欠陥数の予測
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 角田 雅照門田 暁人松本 健一
- 並列タイトル等
- Predicting Faults After Unit Testing Using Design Phase Metrics in Embedded Software Development
- タイトル（掲載誌）
- SEC journal / 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 11(2)=45:2015.9
- 掲載巻
- 11
- 掲載号
- 2
- 掲載通号
- 45