バックゲート表面電位固定構造を用いた完全空乏化SOIピクセル検出器の性能評価 (情報センシング)
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 亀濱 博紀Sumeet Shrestha安富 啓太 他
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- The performance evaluation of fully depleted SOI pixel detector with backgate surface potential pinning
- タイトル（掲載誌）
- 映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 39(35):2015.9
- 掲載巻
- 39
- 掲載号
- 35