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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 衣川 昌宏林 優一森 達哉
- シリーズタイトル
- 並列タイトル等
- Fundamental Study on Evaluation of EM information Leakage caused by IEMI with Hardware Trojan
- タイトル（掲載誌）
- 電気学会研究会資料. EMC = The papers of technical meeting on electromagnetic compatibility, IEE Japan
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 2016(9-15):2016.3.22
- 掲載巻
- 2016
- 掲載号
- 9-15