位相シフト不要なワン...

位相シフト不要なワンショット形状計測 : 広視野レーザー走査型干渉計との組み合わせ (特集 非接触検査・計測技術の最新動向)

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位相シフト不要なワンショット形状計測 : 広視野レーザー走査型干渉計との組み合わせ

(特集 非接触検査・計測技術の最新動向)

国立国会図書館請求記号
Z14-B474
国立国会図書館書誌ID
028343396
資料種別
記事
著者
新田 勇ほか
出版者
東京 : 日本工業出版
出版年
2017-07
資料形態
掲載誌名
検査技術 / 検査技術編集委員会 編 22(7)=249:2017.7
掲載ページ
p.47-52
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
新田 勇
月山 陽介
並列タイトル等
Single-shot Interferometry without phase shift technique
タイトル(掲載誌)
検査技術 / 検査技術編集委員会 編
巻号年月日等(掲載誌)
22(7)=249:2017.7
掲載巻
22
掲載号
7