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HTS薄膜内遮蔽電流密度シミュレーション : 非接触jc測定法によるクラック検出可能性 (静止器 回転機合同研究会・電磁界数値計算技術とその応用)

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HTS薄膜内遮蔽電流密度シミュレーション : 非接触jc測定法によるクラック検出可能性

(静止器 回転機合同研究会・電磁界数値計算技術とその応用)

国立国会図書館請求記号
Z43-240
国立国会図書館書誌ID
028687826
資料種別
記事
著者
高山 彰優ほか
出版者
東京 : 電気学会
出版年
2014-01-24
資料形態
掲載誌名
電気学会研究会資料. RM / 電気学会回転機研究会 [編] 2014(16-31):2014.1.24
掲載ページ
p.13-16
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
高山 彰優
神谷 淳
並列タイトル等
Numerical Simulation of Shielding Current Density in HTS Thin Film : Detectability of Crack by Contactlessly jc-Measurement Methods
タイトル(掲載誌)
電気学会研究会資料. RM / 電気学会回転機研究会 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
2014(16-31):2014.1.24
掲載巻
2014
掲載号
16-31