遅延故障に起因する回...

遅延故障に起因する回路寿命分布の確率的高速推定手法 (ハードウェアセキュリティ)

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遅延故障に起因する回路寿命分布の確率的高速推定手法

(ハードウェアセキュリティ)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
030363102
資料種別
記事
著者
富山 葉月ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2020-03
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119(444):2020.3.4-7
掲載ページ
p.113-118
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
富山 葉月
増田 豊
石原 亨
シリーズタイトル
並列タイトル等
Stochastic fast estimation of timing error induced circuit lifetime distribution
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
119(444):2020.3.4-7
掲載巻
119
掲載号
444