マイクロ波による物性評価と欠陥検出 (特集 電界計測を基盤とする非破壊評価手法の適用と展開)

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マイクロ波による物性評価と欠陥検出

(特集 電界計測を基盤とする非破壊評価手法の適用と展開)

国立国会図書館請求記号
Z14-41
国立国会図書館書誌ID
10693326
資料種別
記事
著者
巨 陽ほか
出版者
[東京] : 日本非破壊検査協会
出版年
2010-05
資料形態
掲載誌名
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 59(5) 2010.5
掲載ページ
p.227~230
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
巨 陽
細井 厚志
並列タイトル等
Property evaluation and defect detection by microwave
タイトル(掲載誌)
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編
巻号年月日等(掲載誌)
59(5) 2010.5
掲載巻
59
掲載号
5