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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 永井 宏樹中嶋 佳秀国村 伸祐 他
- 並列タイトル等
- Improvement in sensitivity and quantification by using a portable total reflection X-ray fluorescence spectrometer equipped with a silicon drift detector
- タイトル(掲載誌)
- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
- 巻号年月日等(掲載誌)
- (通号 42) 2011.3
- 掲載通号
- 42
- 掲載ページ
- 115~123
- 掲載年月日(W3CDTF)
- 2011-03