赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定 (エレクトロニクスシミュレーション)

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赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定

(エレクトロニクスシミュレーション)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
11117178
資料種別
記事
著者
千代 憲隆ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2011-05
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111(66) 2011.5.26・27
掲載ページ
p.13~18
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
千代 憲隆
小峯 祐司
田中 康寛 他
並列タイトル等
Measurement of electromagnetic field intensity measurement near circuit board using infrared 2-D lock-in amplifier
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
111(66) 2011.5.26・27
掲載巻
111
掲載号
66