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雑誌表面科学
巻号23(7)-23(12) 20020700-20021200
記事ケルビンプローブ法に...

ケルビンプローブ法によるTPD/Alq3系有機EL素子界面の接触電位差測定 (第21回表面科学講演大会論文特集(1))

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ケルビンプローブ法によるTPD/Alq3系有機EL素子界面の接触電位差測定(第21回表面科学講演大会論文特集(1))

国立国会図書館請求記号
Z15-379
国立国会図書館書誌ID
6217441
資料種別
記事
著者
岸野 賢悟ほか
出版者
東京 : 日本表面科学会
出版年
2002-07
資料形態
デジタル
掲載誌名
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 23(7) 2002.7
掲載ページ
p.455～460
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資料詳細

要約等：

The contact potential differences on various substrates were measured as a function of organic layers thickness. Two different types of structures: tr...

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デジタル

資料種別
記事
タイトル
ケルビンプローブ法によるTPD/Alq3系有機EL素子界面の接触電位差測定
著者・編者
岸野 賢悟
太田 英二
シリーズタイトル
第21回表面科学講演大会論文特集(1)
著者標目
岸野 賢悟
太田 英二
タイトル（掲載誌）
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
巻号年月日等（掲載誌）
23(7) 2002.7
掲載巻
23
掲載号
7
掲載ページ
455～460