ワイブル分布からの二値観測寿命試験のための逐次D-最適試験計画
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CiNii Research
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 山本 渉岩本 大輔安田 裕和 他
- タイトル（掲載誌）
- 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 25(1) (通号 125) 2003.1
- 掲載巻
- 25
- 掲載号
- 1
- 掲載通号
- 125
- 掲載ページ
- 75～87