極薄SiO2/Si界...

極薄SiO2/Si界面のエネルギー障壁の第一原理計算

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極薄SiO2/Si界面のエネルギー障壁の第一原理計算

国立国会図書館請求記号
Z15-379
国立国会図書館書誌ID
6685232
資料種別
記事
著者
渡会 雅敏ほか
出版者
東京 : 日本表面科学会
出版年
2003-09
資料形態
デジタル
掲載誌名
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 24(9) 2003.9
掲載ページ
p.550~555
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資料詳細

要約等:

The energy barrier and penetration depth of a hole are studied for ultrathin SiO<Sub>2</Sub>/Si interfaces. Layer thickness dependence and injected ca...

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
渡会 雅敏
中村 淳
名取 晃子
タイトル(掲載誌)
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
24(9) 2003.9
掲載巻
24
掲載号
9
掲載ページ
550~555
掲載年月日(W3CDTF)
2003-09