近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価 (特集 電位差法及び渦電流探傷法による非破壊的な定量評価方法)

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近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価

(特集 電位差法及び渦電流探傷法による非破壊的な定量評価方法)

国立国会図書館請求記号
Z14-41
国立国会図書館書誌ID
8561784
資料種別
記事
著者
燈明 泰成
出版者
[東京] : 日本非破壊検査協会
出版年
2006-11
資料形態
掲載誌名
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 55(11) 2006.11
掲載ページ
p.567~570
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資料種別
記事
著者・編者
燈明 泰成
著者標目
タイトル(掲載誌)
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編
巻号年月日等(掲載誌)
55(11) 2006.11
掲載巻
55
掲載号
11
掲載ページ
567~570