多端子型直流電位差法を用いた半楕円背面き裂の位置,寸法,形状と板厚の同時推定に関する電位場解析

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多端子型直流電位差法を用いた半楕円背面き裂の位置,寸法,形状と板厚の同時推定に関する電位場解析

国立国会図書館請求記号
Z14-41
国立国会図書館書誌ID
9404081
資料種別
記事
著者
多田 直哉ほか
出版者
[東京] : 日本非破壊検査協会
出版年
2008-03
資料形態
掲載誌名
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 57(3) 2008.3
掲載ページ
p.137~141
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
多田 直哉
船越 亮
内田 真 他
並列タイトル等
Electric field analysis of the simultaneous evaluation of location, size, and shape of a semi-elliptical crack on the back surface and plate thickness using direct-current potential difference method of multiple-probe type
タイトル(掲載誌)
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編
巻号年月日等(掲載誌)
57(3) 2008.3
掲載巻
57
掲載号
3
掲載ページ
137~141