詳細情報
- ID
- 01089517
- 典拠種別Type of Authority
- 団体名Corporate Names
- 名称/タイトルName / Title
- IIU
- 関連名称（旧称）Related Name(s) (Previous Name)
- 普遍学国際研究所
- 設立年Date of Establishment
- 2006
- 来歴Corporate History
- 株式会社; 2006年5月名称変更
- 関連リンクRelated Links
- NDL|01089517 (VIAF)
- 出典Sources
- 電磁現象を用いた応力腐食割れと疲労割れの識別に関する研究
- 作成日Date Created
- 2007-06-11
- 最終更新日Last Updated
- 2007-06-11T17:34:19
- 外部サイトへのリンクExternal Link
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